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新型DART SVP源和AccuTOF-DART飛行時(shí)間質(zhì)譜儀性能
2010-2-9 來(lái)源:中國(guó)聚合物網(wǎng)
關(guān)鍵詞:dart 質(zhì)譜 svp

DART-SVP-iPhone

  AccuTOF-DARTTM質(zhì)譜儀是日本電子(JEOL)的獲獎(jiǎng)產(chǎn)品,新型號(hào)產(chǎn)品使用iPod touch控制的DART SVP離子源,在使用飛行時(shí)間質(zhì)譜后,可實(shí)時(shí)地獲取精確質(zhì)量。

  日本電子于2005年推出用于該公司AccuTOF-LC質(zhì)譜儀的直接實(shí)時(shí)分析(DARTTM)離子源,用首個(gè)商業(yè)化的敞開(kāi)式大氣離子源擴(kuò)展了系統(tǒng)的能力,敞開(kāi)式大氣離子源幾乎不需要樣品前處理,就可以立即獲得精確質(zhì)量譜圖。

  新一代的DART離子源,DART SVP (simplified voltage and pressure),將樣品自動(dòng)化和樣品靈活設(shè)置/定位功能集成在一起,可獲得快速的、重現(xiàn)的性能。一個(gè)計(jì)算機(jī)控制的線性軌道可以與許多樣品架組合,如鑷子、藥片架、盤子架、管架、用于精確自動(dòng)分析的各種定制的架子,薄層層析板等,F(xiàn)在,DART SVP在DART離子源和大氣壓接口(API)之間有一個(gè)寬的、可選擇的距離范圍,AccuTOF-DART SVP還可進(jìn)行偏離軸向的表面分析。DART SVP和AccuTOF API之間的直接接口阻止了分析過(guò)程中切換分析物時(shí)的化學(xué)干擾。DART SVP與第一代產(chǎn)品系列相比,更耐用、更易于操作、更節(jié)約氣體和能量,并可使用低成本的氮?dú)狻?/P>

  擁有iDART自動(dòng)化技術(shù)的 AccuTOF-DART使得在設(shè)置和設(shè)定DART源的電壓、氣體和壓力免去了猜想工作,并用一個(gè)簡(jiǎn)單的圖形化用戶界面簡(jiǎn)化了操作。使用蘋果iPod,操作員就可以選擇離子極性、溫度和樣本位置。當(dāng)離子源達(dá)到設(shè)定溫度,實(shí)驗(yàn)就會(huì)自動(dòng)運(yùn)行直到完成,或者研究者可以按照需要監(jiān)控和改變實(shí)驗(yàn)條件。新用戶可在iPod上觀看指導(dǎo)實(shí)驗(yàn)的視頻,可重現(xiàn)這個(gè)實(shí)驗(yàn)。DART SVP傳統(tǒng)上是用PC操作的,可通過(guò)無(wú)線或以太網(wǎng)連接進(jìn)行遠(yuǎn)程控制和監(jiān)控。

  日本電子的OF-DART SVP提供精確的質(zhì)量測(cè)量,所得信息結(jié)合數(shù)據(jù)中產(chǎn)生的同位素信息可以簡(jiǎn)單地確定未知物的元素組成。該系統(tǒng)還可與電噴霧離子源(ESI)聯(lián)用用于LC-MS,還可和可選的大氣壓化學(xué)源(APCI)、 nano-ESI源和micro-ESI源聯(lián)用。

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(子妍)