中科院西安光學(xué)精密機(jī)械研究所新型干涉光譜成像技術(shù)研究日前取得重要進(jìn)展。以胡炳樑研究員為首的研究團(tuán)隊(duì)在國(guó)內(nèi)率先將離軸三反光學(xué)系統(tǒng)應(yīng)用于短波紅外干涉光譜成像系統(tǒng)中，并成功研制了基于M-Z像面干涉光譜成像的離軸三反桌面樣機(jī)系統(tǒng)。
面向?qū)捀采w、高分辨率、高光譜分辨率的要求，離軸三反加M-Z像面干涉光譜成像技術(shù)可以有效解決大視場(chǎng)光學(xué)系統(tǒng)和大尺寸干涉儀的技術(shù)瓶頸。M-Z干涉儀放置在系統(tǒng)會(huì)聚光路中，在減小系統(tǒng)體積和重量的同時(shí)，能量利用率可以達(dá)到成像儀的極限；離軸三反光學(xué)系統(tǒng)則能夠同時(shí)實(shí)現(xiàn)長(zhǎng)焦距與大視場(chǎng)，并且沒(méi)有中心遮攔，傳遞函數(shù)高。
但在基于M-Z像面干涉的光譜成像系統(tǒng)中，離軸全反射系統(tǒng)難以補(bǔ)償會(huì)聚光路中M-Z干涉儀棱鏡元件所引入的像差。為此，科研人員將校正補(bǔ)償系統(tǒng)應(yīng)用到離軸三反系統(tǒng)中，設(shè)計(jì)并成功研制了一種新型離軸三反成像光學(xué)系統(tǒng)，并針對(duì)離軸三反系統(tǒng)裝調(diào)自由度多，結(jié)構(gòu)非對(duì)稱性以及離軸系統(tǒng)離軸量需要精確測(cè)量調(diào)整等問(wèn)題，解決了離軸非球面微應(yīng)力裝夾、多自由度調(diào)整結(jié)構(gòu)形式、離軸三反系統(tǒng)高精度裝調(diào)等多項(xiàng)技術(shù)難點(diǎn)，為高分辨率、高光譜分辨率光譜成像技術(shù)奠定了堅(jiān)實(shí)基礎(chǔ)，并完成了必要的技術(shù)儲(chǔ)備，使西安光機(jī)所先進(jìn)光譜成像技術(shù)達(dá)到了國(guó)內(nèi)領(lǐng)先水平。
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