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馬爾文攜新品頂級動態(tài)光散射系統(tǒng)Zetasizer Nano ZSP亮相 IPB
2012-10-11 來源:中國聚合物網(wǎng)
關鍵詞:動態(tài)光散射 粒度分析 電位測量 馬爾文

    (2012年10月11日,中國上海)英國馬爾文儀器公司將于10月17日-19日在上海國際展覽中心舉辦的2012第十屆中國國際粉體加工/散料輸送展覽會(IPB 2012)1111展位展示其在2012年9月全球同步上市的新型頂級動態(tài)光散射系統(tǒng)Zetasizer Nano ZSP、明星產(chǎn)品Mastersizer 3000激光衍射粒度分析儀以及Insitec系列在線粒度分析儀,這也是Zetasizer Nano ZSP產(chǎn)品首次在中國公開展示。

馬爾文Zetasizer Nano ZSP圖片

    Zetasizer Nano ZSP新型頂級動態(tài)光散射系統(tǒng),具備高靈敏度的粒度及Zeta電位測量功能,實現(xiàn)電泳遷移率的快速可靠測量;對測量設置進行自動優(yōu)化,可最大程度避免樣品在遷移率測量過程中發(fā)生變性和聚集現(xiàn)象;并可完成后續(xù)蛋白質電荷關鍵參數(shù)計算。Zetasizer Nano ZSP隸屬Zetasizer Nano納米級測量系列,該系列主要表征納米顆粒、膠體與蛋白質的粒度/分子尺寸和測量絕對分子量及Zeta電位。

    與此同時,馬爾文公司的明星產(chǎn)品Mastersizer 3000激光衍射粒度分析也將亮相展會,該產(chǎn)品上市一年來,不斷成為高等院校、科研機構及眾多行業(yè)公司研發(fā)方面的重要選擇。它測量的粒徑范圍達到迄今全球最寬的10納米至3500微米,無需更換透鏡及光路設置,適用于干濕法樣品的測定,具有高準確度和重現(xiàn)性。此外,參展的Insitec系列實時粒度分析儀包括Insitec干式、濕式及噴霧式顆粒粒度分析儀,可分別為具有氣動或重力給料流的干式、濕式批量或連續(xù)工藝,以及噴霧、氣溶膠提供全自動實時或人工在線顆粒粒度測量。

    另外,中國顆粒學會與北京粉體技術協(xié)會定于2012 年10 月18 日在上海國際展覽中心舉辦“2012 年顆粒測試與表征技術培訓班”,馬爾文儀器中國區(qū)總經(jīng)理秦和義先生的關于“粒度測試結果的影響因素解析”精彩報告將于上午9點開始。歡迎蒞臨!

    馬爾文(Malvern),馬爾文儀器(Malvern Instruments)與Mastersizer,Zetasizer,Insitec均為馬爾文儀器有限公司注冊商標。

    關于馬爾文儀器

    成立于20世紀60年代末的英國馬爾文儀器有限公司總部位于英國知識密度最高的馬爾文城,公司前身是英國國防工業(yè)實驗室。作為舉世公認的材料表征技術先鋒及行業(yè)標準,馬爾文公司的產(chǎn)品和技術集中體現(xiàn)了顆粒表征,分子構形和流變特性分析和科技發(fā)展的最新成果,并廣泛應用于磨料、蛋白質、制藥、石化石油、陶瓷、粉體、涂料、水泥和軍工等多個領域。目前,馬爾文公司在歐洲、北美、中國、日本和韓國均設有子公司,在印度有一家合資企業(yè),用戶遍及世界86個國家和地區(qū)。作為英國思百吉集團成員,馬爾文儀器在中國設有亞太技術應用實驗室和6個辦事處,總部位于上海,其他辦事處包括北京、廣州、成都、武漢和西安。

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(徐)
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